随着芯片规模越来越大，工艺越来越先进，芯片设计面临的挑战也更加严苛，这使得可测性设计DFT（Design-For-Test）在设计流程中越来越重要。11月19日，《集成电路可测性设计DFT工程师》高级班圆满结课。每晚3小时的理论课加两天的线下实操，吸引了众多学员报名参加。 本次培训由资深DFTStaff工程师付永杰老师和北方工业大学副教授魏淑华博士讲授。课程内容基于DFT的理论基础，重点展示和讲解了Scan/ATPG 的技术和解决方案，同时也对DFT其它技术的基本方法包括MBIST/BoundarySCAN/Diagnosis进行了介绍。结合相应的实际练习，让学员们了解在ATPG领...