SSD生命周期说明
固态硬盘中的储存介质为NAND闪存。而NAND闪存主要是一个有两个栅极的CMOS管：分别是控制栅极、浮栅。其中浮栅的主要作用则是对电荷进行储存，而栅与沟道之间的氧化层的好坏程度则决定了浮栅储存电荷是否可靠，这也是决定了NAND闪存的寿命。而在NAND闪存中，P/E Cycle则称之为擦除次数，这个主要是对NAND闪存寿命进行判断的关键参数。所以当擦除次数慢慢增加的话，浮栅与沟道之间的的氧化层也会有越严重的磨损，造成NAND的寿命越来越多。所以，SSD写入量达到设计极限，颗粒擦写寿命耗尽后会导致磁盘写入速度非常缓慢，读取正常。
适用范围
搭配LSI RAID卡，linux操作系统带内操作
操作方法
一、透过RAID阵列查看SSD smart信息方法（适用INTEL品牌SSD，其它品牌可同样方法查看是否有相同smart参数显示）：
1、 执行./storcli64 /c0/eall/sall show查看目标SSD盘的DID号。（提前安装storcli工具用来识别DID号）
2、 根据磁盘Media_Wearout_Indicator的VALUE值判断是否寿命耗尽（百分比显示，初始值0，一般到90建议更换），例如查看DID为17的盘，它是系统下RAID组盘符/dev/sda其中的一块盘。
查看命令：smartctl -a --device=sat+megaraid,17 /dev/sda 找输出结果中233 Media_wearout_Indicator项
smartctl -a --device=sat+megaraid,18 /dev/sdb
二、实际对于其它厂家SSD，如镁光Micron 5200 ECO 960GB 2.5"，smart信息可能无233 Media_wearout_Indicator项，可监控以下参考项的raw value：
173/202项参数注释：
173 |
Block Wear-Leveling Count/Average Block Erase Count |
202 |
Percentage Lifetime Remaining |
命令：smartctl -a --device=sat+megaraid,17 /dev/sda查看SSD的smart信息
系统下smart的173是平均擦写次数，可以根据这个计算（5100系列可擦写5000次，5200系列可以擦写10000次）；
系统下smart的202是SSD剩余生命的百分比，初始值为100，生命值尽时为0；
三、对于SSD磁盘未做RAID组，接直通SAS卡，或者以单盘RAID0、单盘JBOD使用时，可直接通过smart命令查看（无需storcli工具查看DID号）。
命令：smartctl -a /dev/sda，查看输出结果中寿命参数项。