测量和检测是工业制造领域的重要环节，而台阶仪和轮廓仪则是各有其特点和应用范围的两种仪器。台阶仪和轮廓仪区别在哪？ 一、台阶仪 1、产品概述 台阶仪是一种接触式表面形貌测量仪器。它是利用光学干涉原理，对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。 2、产品特点 台阶仪在工业生产中，常用来保证产品的质量和工艺要求的达标。它对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。 3、应用 台阶仪广泛应用于大学、研究实验室和研究所、半导体和化合物半导体、高亮度LE...

晶圆检测机，又称为半导体芯片自动化检测设备，是用于对半导体芯片的质量进行检验和测试的专用设备。它可以用于硅片、硅晶圆、LED芯片等半导体材料的表面检测，通过对晶圆的表面特征进行全面检测，可以有效降低产品的不良率，提高产品的稳定性和可靠性。 一种晶圆表面形貌测量方法-WD4000无图晶圆几何量测系统 WD4000无图晶圆检测机采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3DMapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。 测量功能 1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、...